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芯片測試是確保芯片能夠正常工作的關(guān)鍵步驟。對于SoC芯片測試，由于SoC的基礎是深亞微米工藝，因此需要采用全新的測試方法。設計工程師必須在設計初期就做出測試規劃，以確保每個(gè)功能元件都能得到充分的測試。因此，芯片測試在設計初期系統級芯片測試中是非常重要的。
| 中文名 | 芯片測試 |
| 個(gè)晶體管 | 1億 |
| 工具 | ATPG工具 |
| 軟件 | 測試軟件 |
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記憶障礙是以遺忘和記憶錯誤為特征的一種精神心理科疾病。多因癡呆、腦外傷、嚴重應激事件、柯薩可夫綜合征等多種疾病導致遺忘或記憶錯誤。記憶障礙主要表現：記憶減弱、遺忘、錯構、虛構、潛隱記憶等癥狀。記憶障礙主要通過(guò)病因治療等改善癥狀。記憶障礙常因遺忘和記憶錯誤給生活和工作帶來(lái)不便。記憶障礙的預后與其病因有
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這家伙太懶了，什么都沒(méi)寫(xiě)！
