APT是一個(gè)程序開(kāi)發(fā)語(yǔ)言，Automatic Test Pattern Generation(ATPG)自動(dòng)測試向量生成是在半導體電器測試中使用的測試圖形向量由程序自動(dòng)生成的過(guò)程。測試向量按順序地加載到器件的輸入腳上，輸出的信號被收集并與預算好的測試向量相比較從而判斷測試的結果。ATPG有效性是衡量測試錯誤覆蓋率的重要指標。

外文名

Automatic Test Pattern Generation(ATPG)

屬性

程序開(kāi)發(fā)語(yǔ)言

簡(jiǎn)稱(chēng)

ATPG

簡(jiǎn)介

自動(dòng)測試圖樣產(chǎn)生

（英語(yǔ)：

Automatic test pattern generation, ATPG

）系統是一種工具，產(chǎn)生資料給制造出來(lái)后的數字電路作測試使用。

超大規模集成電路的測試平臺，要達到非常高的錯誤涵蓋率（Fault coverage）是非常困難的工作，因為它的復雜度很高。針對組合邏輯電路（Combinatorial logic）和時(shí)序邏輯電路（Sequential logic）的電路測試，必須要使用不同的 ATPG 方法。

階段

一個(gè)ATPG的周期可以分為兩個(gè)階段：

1、測試的生成

2、測試的應用

在測試的生成過(guò)程中，針對電路的設計的測試模型在Gate或Transistor Level產(chǎn)生，以使錯誤的電路能夠被該模型所偵測。這個(gè)過(guò)程基本上是個(gè)數學(xué)過(guò)程，可以通過(guò)以下幾個(gè)方法獲得：

1、手工方法

2、算法產(chǎn)生

3、偽隨機產(chǎn)生－－軟件通過(guò)復雜的ATPG程序產(chǎn)生測試圖形向量

在創(chuàng )建一個(gè)測試時(shí)，我們的目標應該是在有限存儲空間內執行高效的測試圖形向量。由此可見(jiàn)，ATPG需要在滿(mǎn)足一定錯誤覆蓋率的條件下，產(chǎn)生盡可能少的測試向量。主要考慮到下述因素：

1、建立最小測試組所需要的時(shí)間

2、測試圖形向量的大小，軟件、硬件的需求

3、測試過(guò)程的長(cháng)度

4、加載測試圖形向量所需的時(shí)間

5、外部設備

算法

現在被廣泛使用的ATPG算法包括：D算法，PODEM算法和FAN算法。任何算法都需要一種叫“path sensitization”的技術(shù)，它指的是在電路中尋找一條路徑以使得路徑中的錯誤都能表現在路徑的輸出端。

最廣泛應用的算法是D算法，D代表1而D'代表0，D和D'互補。具體的方法在此不再贅述。

ATPG產(chǎn)生過(guò)程包含以下步驟：

1、錯誤選擇，選擇需要測試的錯誤

2、初始，尋找合適的輸入向量集

3、傳輸向量集

4、比較結果

可測試性設計

可測試性設計

（英語(yǔ)：

Design for Testability, DFT

）是一種集成電路設計技術(shù)，它將一些特殊結構在設計階段植入電路，以便設計完成后進(jìn)行測試。電路測試有時(shí)并不容易，這是因為電路的許多內部節點(diǎn)信號在外部難以控制和觀(guān)測。通過(guò)添加可測試性設計結構，例如掃描鏈等，內部信號可以暴露給電路外部?？傊?，在設計階段添加這些結構雖然增加了電路的復雜程度，看似增加了成本，但是往往能夠在測試階段節約更多的時(shí)間和金錢(qián)。